1、負(fù)責(zé)新設(shè)備的導(dǎo)入、負(fù)責(zé)編寫(xiě)OI、SOP等工藝管控文件系統(tǒng)
2、管理量測(cè)設(shè)備,例如光學(xué)表面缺陷檢測(cè)、光學(xué)顯微鏡、橢偏儀、膜厚儀、電阻儀、激光干涉儀、AFM、XRD、XRR等,為生產(chǎn)和工程提供技術(shù)支持。
3、根據(jù)每個(gè)產(chǎn)品的規(guī)格和設(shè)備類(lèi)型,設(shè)置新的和優(yōu)化recipe。
4、監(jiān)測(cè)和改進(jìn)設(shè)備的KPI,例如設(shè)備穩(wěn)定性、設(shè)備利用率、未計(jì)劃的停機(jī)時(shí)間、處理速率、輸入量、產(chǎn)品比等。向管理層更新以及匯報(bào)進(jìn)度和偏差